Deslocamento Goos-Hänchen Associado à Excitação de Onda Guiada em uma Placa de Silício
Goos-Hänchen, Ondas Guiadas, Terahertz.
Quando um feixe de radiação eletromagnética incide sobre uma superfície, o feixe refletido pode sofrer um deslocamento lateral. Este efeito não é previsto pela óptica geométrica e é conhecido como efeito Goos-Hänchen, que, no caso do presente trabalho, é devido à excitação de onda guiada, na qual esse deslocamento será dependente da frequência da radiação incidente. A configuração estudada consiste em um prisma de Si, com ângulo de incidência com valor acima do ângulo crítico para reflexão interna total, uma camada de ar e uma placa de Si com espessura definida. Simulações computacionais foram realizadas com esta geometria e resultados interessantes, foram obtidos. A primeira é que, para a faixa de frequência utilizada (255-295 GHz), a partir de cálculos assumindo um feixe largo, observamos que o deslocamento do feixe apresenta valores diferentes, apresentando máximos e mínimos para determinadas frequências estabelecidas correspondentes a excitações de ondas guiadas. Além deste resultado, consideramos, para um feixe gaussiano de largura finita, as intensidades do feixe incidente e refletido apresentam um deslocamento. Examinamos que, quando modificamos parâmetros como a largura da espessura da camada de ar entre o prisma e a placa de Si, os deslocamentos são maiores para feixes mais largos e distância prisma-placa maior.